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PCT高壓加速壽命老化試驗箱和HAST高壓加速壽命老化試驗箱主要用于測試半導體封裝的吸濕能力。當被測產品在惡劣的溫度、濕度和壓力下進行測試時，水分會沿著膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。廣泛應用于EVA膠水、TPT薄膜、光伏玻璃、PCB電路板、多層電路板、ic半導體、LCD光學器件、電子元器件。測試塑料包裝設備/材料、磁鐵/磁性材料等的密封性能。、測試耐壓、氣密性、失重試驗、飽和穩(wěn)態(tài)濕熱試驗、加速老化篩選試驗、光伏組件高可靠性和壽命加速試驗。

隨著工業(yè)化對器件可靠性的要求越來越高，目前大部分器件能夠經受長時間THB(雙85，雙95)測試而不失效，因此用于判定成品質量的測試時間也相應增加。為了提高測試效率，減少測試時間，采用了新的PCT和USPCT(HAST)。現在高壓加速壽命老化試驗箱試驗被IEC(國際電工委員會)標準化為濕熱加速試驗。注意:USPCT現在叫做HAST(高加速壓力測試)。經過長期客戶跟蹤對比，121°C/1kg/cm2/%測試1小時相當于雙85、雙95測試250小時左右。

常見的失效模式有有源金屬化區(qū)域腐蝕導致的開路，或污染導致的封裝引腳間短路等。

加速壽命試驗的目的是增加環(huán)境應力(如溫度)和工作應力(如施加在產品上的電壓和負載)，加快試驗過程，縮短產品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

那么PCT高電壓加速壽命老化試驗箱和HAST高電壓加速壽命老化試驗箱有什么區(qū)別呢？為方便客戶選擇，中天儀器做如下簡單描述，希望能幫助客戶選擇:

PCT加速壽命老化試驗箱的主要作用是:壓力是溫度對應的飽和壓力顯示，濕度也是溫度對應的飽和蒸汽壓力。也就是說，測試溫度是隨著用戶的測試條件確定的，飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度也是確定的。溫度對應的飽和蒸汽壓力有對應關系。請參考下表對應關系:

溫度和壓力對照表(壓力為表壓，即產品的實際測試壓力)

HAST高壓加速壽命老化試驗箱的主要作用是:溫度、壓力、濕度可以隨用戶的試驗條件任意設定，不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響，即不飽和控制。也就是說，可以根據用戶的測試條件任意設置測試溫度、壓力和濕度。這時就會出現一個問題:非飽和狀態(tài)下濕度的準確性。中天儀器使用的濕度檢測裝置是通過干濕球對比，根據試驗箱內的真實環(huán)境來顯示和控制的，不是通過換算關系來顯示和控制的，所以其準確性是有保證的。