1.GB/T 2443.1-2001試驗(yàn)一:低溫試驗(yàn)方法
2.GB/T 2443.2-2001試驗(yàn)B:低溫試驗(yàn)方法
3.GB/T 2443.22-2002試驗(yàn)方法:低溫試驗(yàn)方法
4.GJB 150.3-1986高溫試驗(yàn)
5.GJB 150.4-1986低溫試驗(yàn)
6.GJB 150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)
7.GB/T10592-2008，GJB150.3高低溫沖擊試驗(yàn)
冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的必備測(cè)試設(shè)備。用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間極高溫度和極低溫度的連續(xù)環(huán)境中的耐久程度，可以在短的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)到樣品因熱脹冷縮而引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。
1.溫度范圍:-65℃~ 150℃；高溫箱:+60℃~ 150℃；低溫箱:0℃~-65℃；
2.溫度波動(dòng):2℃；
3.溫度誤差:2℃；
4.升溫速率:從常溫到150℃≤50min；
5.冷卻速度:從常溫到-65℃≤60min；
6.制冷溫度下限:≤-65℃；
7.沖擊溫度:+150 ~-65℃；
8.工作室尺寸:500×400×400mm(寬×高×深)；
9.外形尺寸:約1900×2100×2000mm(寬×高×深)；
10.電源:380V 38V；50Hz 1Hz
11.功率:約16.5千瓦
12.溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min；
13.樣品架承載能力:10Kg以內(nèi)。
1.采用伺服制冷劑流量控制技術(shù)，可有效節(jié)能40%以上。
2.采用日本進(jìn)口彩色觸控液晶中英文微電腦溫控器。
3.立式三箱結(jié)構(gòu)，高低溫箱循環(huán)過(guò)程自動(dòng)控制，停留轉(zhuǎn)換時(shí)間可調(diào)，不銹鋼內(nèi)膽，多形式記錄。
4.提供多種安全保護(hù)措施和裝置。
5.完善的保護(hù)報(bào)警功能:工作間發(fā)生短路、漏電、超溫時(shí)；出現(xiàn)超壓、過(guò)載、油壓、含水等異常情況時(shí)。壓縮機(jī)的故障原因會(huì)立即自動(dòng)顯示在屏幕上，并提供故障排除方法。當(dāng)發(fā)現(xiàn)輸入電壓不穩(wěn)定時(shí)，將提供緊急停止裝置。
6.冷熱沖擊結(jié)構(gòu)的移動(dòng)時(shí)間在10秒以內(nèi)。
7.冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5分鐘以內(nèi)，可滿足MTL、IEC、JIS、GJB等規(guī)范。
8.可擴(kuò)展設(shè)備:溫度記錄儀。
9.Ln2快速冷卻控制系統(tǒng)。
10.RS-232通信接口設(shè)備，可與個(gè)人電腦同時(shí)在線監(jiān)控和記錄局域網(wǎng)。
11.功能模塊:本設(shè)備分為三個(gè)部分:高溫區(qū)、低溫區(qū)和試驗(yàn)區(qū)。采用獨(dú)特的隔熱結(jié)構(gòu)和蓄熱、蓄冷作用，通過(guò)冷熱風(fēng)15和道路切換方式引入樣品進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)。
12.采用原裝日本微電腦大液晶(320*240dots)中英文顯示控制系統(tǒng)。
13.高程序存儲(chǔ)容量，可設(shè)置存儲(chǔ)100個(gè)程序。zui的大循環(huán)設(shè)置為9999個(gè)循環(huán)，每次zui的大循環(huán)設(shè)置為999Hrs59Mins。
14.配有RS-232C通訊接口裝置，可與電腦連接控制/編輯/記錄及十組動(dòng)態(tài)鏈接(15個(gè))，使用方便。執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可以選擇2區(qū)或3區(qū)功能。
16.全自動(dòng)、高精度系統(tǒng)，任一部件的運(yùn)動(dòng)都全由P.L.C .鎖定
17.機(jī)械故障時(shí)，應(yīng)提供自動(dòng)電路和報(bào)警信號(hào)。如果輸入電壓不穩(wěn)定，應(yīng)提供緊急停止裝置。
主要用于測(cè)試材料或復(fù)合材料在瞬間極高溫度或極低溫度的連續(xù)環(huán)境下的耐久性能，從而在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)樣品因熱脹冷縮引起的化學(xué)變化或物理?yè)p傷。用于電子電氣元件、自動(dòng)化元件、通訊元件、汽車零部件、金屬、化工材料、塑料等行業(yè)的物理變化，國(guó)防工業(yè)、航空航天、軍工、BGA、PCB基板板、電子芯片ic、半導(dǎo)體陶瓷、光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、計(jì)算機(jī)、手機(jī)和高分子材料。測(cè)試材料在熱脹冷縮過(guò)程中對(duì)高低溫、化學(xué)變化或產(chǎn)品物理?yè)p傷的反復(fù)抵抗能力，可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量，可以應(yīng)用于從精密IC到重型機(jī)械零部件的一切領(lǐng)域。它是測(cè)試各領(lǐng)域產(chǎn)品不可缺少的試驗(yàn)箱，用于測(cè)試高溫、低溫和濕熱循環(huán)。
